TESCAN 聚焦离子束可变真空扫描电镜 -VELA 3 XMU
- 公司介绍
TESCAN总部坐落在捷克共和国布尔诺市,作为范围内的科学仪器制造商,TESCAN专注于于研究、开发、制造扫描电子显微镜及其相关附件和特殊产品,为建立在扫描电子显微镜以及针对不同应用的相关系统解决方案领域内的品牌做出不懈努力。
通过参与好的端研究项目,通过和其他电子显微镜以及显微分析的制造商的合作,TESCAN致力于持续不断的改进产品以使其保持在微纳技术创新解决方案领域内的竞争力。本着制造品质和高可靠性、高稳定性产品的原则,借助于良好的资源信息处理系统和优化过程管理,我们用顶好的水平的技术装备和好高标准的质量管理系统确保客户对产品质量、价格、交货等多方面的满意。
我们有遍布的销售和服务网络,销售团队和训练有素的工程师保证客户在好快的时间内得到产品信息和服务支持。
shi jie*个*集成式Xe等离子源聚焦离子束扫描电子显微镜----FERA3,提供了超高离子束束流(zui高束流为2µA),其溅射速度比Ga离子源高50多倍。对于目前浪费时间或不可能进行的需要刻蚀的材料,FERA3型仪器是一个不错的选择。
新一代的聚焦离子束扫描电子显微镜为用户提供了zui新的技术优势,例如:改进的高性能电子设备使图像采集得速度更快,带有静态和动态图像扭曲补偿技术的超高速扫描系统,内置的编程软件等。
FERA3的设计适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求,其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为优秀的分析工具。
- *的三透镜大视野观察(Wide Field Optics™)设计提供了许多工作与显示模式,体现了TESCAN*可优化电子束光阑的中间镜设计
- 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪(In-Flight Beam Tracing™),可模拟和优化电子束
- 全自动的电子光路设置与合轴
- 成像速度快
- 使用3维电子束技术可获取实时立体图像
- 三维导航
- 高性能的等离子i-FIB设备使切片和材料的刻蚀既快又精确
现在保持电镜处在优秀的状态很简单,只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细,使得仪器的效率zui大化,操作zui简化。
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